筑波大学 新技術説明会【対面開催】
日時：2024年11月12日(火) 13:25～15:55
会場：JST東京本部別館１Fホール（東京・市ケ谷）
参加費：無料
主催：科学技術振興機構、筑波大学
＜お申込み方法・聴講方法＞
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・本説明会は、【対面開催参加】、【見逃し配信視聴】（開催日の翌日より２週間）
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お早めにお申し込みください。（先着150名)
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・対面開催へご参加の方は、受付で受講票をご提示ください。
発表内容一覧
発表内容詳細
- 13:25～13:30
開会挨拶
筑波大学 国際産学連携本部 本部審議役・教授 西野 由高
- 13:30～13:55
- 情報
1）財務諸表における会計上の異常検知を行う「不正会計検知AIシステム」
筑波大学 ビジネスサイエンス系 経営システム科学研究グループ 教授 尾碕 幸謙
新技術の概要
企業の会計情報は会計処理のルールに則り作成されることで社会的信用を得ている。しかし経営者等が私的利益追及のため故意に会計操作を行うと、会計情報は歪み企業の信用を大きく損なうことになる。本技術は、経験豊かな実務家が持つ「歪み」「違和感」の感覚をAI技術で再現し、不正な会計操作を検知するものである。
従来技術・競合技術との比較
不正会計の不正手段には様々な種類がある。従来の不正会計検出方法は特定の不正種別に対応するものであったが、その場合、不正件数が少ない種別については事実上検出が不可能であった。本技術は、会計データの不正手段の種類を限定することなく不正会計をAIで検出できる。
新技術の特徴
・経験豊かな実務家が持つ「歪み」「違和感」の感覚をAI技術で再現
・人手を介さず会計データのあらゆる不正手段に対応した不正会計検出が可能
・財務諸表のみをデータとして扱うため、仕分け情報や定性情報がなくとも不正検出が可能
想定される用途
・会計士、銀行などにおける監査業務の自動化
・企業間取引における相手先企業の信用情報としての活用
・国税局等の捜査支援
- 14:00～14:25
- デバイス・装置
2）半導体ゲルマニウムデバイス 世界最高性能を引き出す薄膜合成技術
筑波大学 数理物質系 准教授 都甲 薫
新技術の概要
ポストSi材料として期待されるGeを主成分とした半導体薄膜の高品質合成と電気的特性に関する技術。ガラスやプラスチック等の汎用基板上に低温合成が可能であり、フレキシブルな情報端末、高効率太陽電池、赤外線センサ、熱電変換素子、二次電池など多様な応用が期待。
従来技術・競合技術との比較
上記の各デバイスの基礎特性について、多結晶Ge系薄膜として世界最高性能を実現するなど、従来技術・競合技術と比して最も高い水準。
新技術の特徴
・高い結晶性と優れた電気的特性をもつ半導体薄膜
・低温プロセス（フレキシブルなプラスチックフィルム上合成）
・他材料へ応用可能性のある高い汎用性
想定される用途
・薄膜トランジスタ（ディスプレイ、3次元LSI）
・薄膜太陽電池
・熱電変換素子
関連情報
・サンプルあり
- 14:30～14:55
- デバイス・装置
3）高温超伝導体単結晶を用いたテラヘルツ波発生技術とその応用
筑波大学 数理物質系 物質工学域 講師 柏木 隆成
新技術の概要
私たちの技術は、テラヘルツ帯の電磁波を発生する技術になります。高温超伝導体の単結晶を微細加工して作製した素子に電圧を印加することで電磁波を発生することが可能です。素子を動作させるには低温環境が必要になりますが、近年では小型の冷凍機もあり、それらを用いて使用することが可能です。
従来技術・競合技術との比較
テラヘルツ帯の電磁波発生の技術は半導体を中心に進んでおります。これらの技術と我々の技術との違いとして、まずは素子材料が高温超伝導体の単結晶である点になります。次に、素子化した超伝導結晶への印加電圧を調整することでテラヘルツ帯の発振周波数も調整可能な点になります。
新技術の特徴
・電圧可変の発振器
・テラヘルツ帯の電磁波発生
・高温超伝導体単結晶の素子
想定される用途
・非接触での非破壊検査
・大容量無線通信
・非接触での物質同定
- 15:00～15:25
- 計測
4）光沢／透明物の高速・省電外観検査
筑波大学 システム情報系 助教 髙谷 剛志
新技術の概要
本技術は、光沢または透明物体を対象とした外観検査技術であり、表面のキズや汚れ等の異常領域を高速かつ省電に検出可能とする。光の照射方向を時間的に変えることで、異常領域において輝度変化を発生させ、変化検出に特化したイベントカメラによって観測することでキズ等を検出・追跡する。
従来技術・競合技術との比較
従来は輝度カメラを用いた画像認識によりキズ等を検出するが、低速で、デバイスや処理にかかる消費電力は数十Wとなる。一方、本技術で用いるイベントカメラの時間分解能は非常に高く、フレームレート換算で10,000fps程度の処理が可能となる。また、デバイスの省電性のみでなく、処理も軽量化されるため、消費電力は数百mWとなると期待される。
新技術の特徴
・被検査体が高速移動していても外観検査が可能
・透明物体についても外観検査が可能
・重量な画像処理が不要
想定される用途
・透明物の製造工程における外観検査
・フィルム製造工程における外観検査
・リチウムイオン電池における外観検査
関連情報
・デモあり
・展示品あり
- 15:30～15:55
- 計測
5）動作範囲が広くノイズに堅牢なコンデンサマイクロフォン
筑波大学 システム情報系 知能機能工学域 准教授 海老原 格
新技術の概要
本技術は、センサの出力をシャントレギュレータのリファレンス端子に接続し、カソード端子とリファレンス端子を抵抗で接続して可変シャントレギュレータを構成することにより、原理的に電源由来・伝送線路由来などのノイズが極めて重畳しない回路特性に変換することを可能としたものである。
変換回路の出力部が電流吐き出し構造ではなく、電流吸い込み構造であるという大きな特徴を持つ。
従来技術・競合技術との比較
従来技術は、ノイズ成分をオペアンプでキャンセルする構成が提案されているが、多くの外付け回路部品が必要であり、コンデンサマイクロフォン専用回路であって、他のセンサに適用することが困難である。
これに対して本技術は、ノイズの重畳を低減することができる変換回路、及び電子回路を提供することを目的としている。
新技術の特徴
・ノイズを約1/3000倍に消失させることができる
・本質的にノイズが重畳しないセンサを構成することができる
・電流出力型センサ・静電容量型センサと見做せるセンサへの適用が可能である
想定される用途
・マイク、圧電センサ、圧力センサ、加速度センサ、光学センサ
関連情報
・サンプルあり
・デモあり
・展示品あり
お問い合わせ
連携・ライセンスについて
筑波大学 国際産学連携本部
TEL：029-859-1659
Mail：event-sanren 
un.tsukuba.ac.jp
URL：https://www.sanrenhonbu.tsukuba.ac.jp/joint-research/for_company/
新技術説明会について
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TEL：03-5214-7519
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